什么是绝缘电阻和漏电流？
在测量过程中，施加高直流电压后，小（微安）电流会流过导体和绝缘层。这种电流的大小取决于电压量、系统电容、总电阻以及材料温度。对于固定电压，电流越大，电阻越低（E=IR，R=E/I）。因此，绝缘电阻值会受到三个子电流的影响。
1. 传导泄漏电流 (I L)
传导电流是指流过绝缘层、导体之间或从导体到地的少量（微安）电流。绝缘状况恶化时，传导电流会增加，并在吸收电流消失后占主导地位。传导电流相对稳定且与时间无关，因此它是测量绝缘电阻的关键电流。
2. 容性充电泄漏电流 (I C)
当两个或多个导体在滚道中运行时，它们会形成电容器。这种电容效应导致泄漏电流流过导体绝缘层。在施加直流电压时，这种电流仅持续几秒钟，并在绝缘体充电至测试电压后下降。在低电容设备中，电容电流可能高于传导漏电流，但通常在记录数据前就已消失。因此，在记录前让读数稳定很重要。而对于高电容设备，电容充电泄漏电流可能会长时间稳定。
3. 极化吸收漏电流 (I A)
吸收电流是由介电材料内分子极化引起的。在低电容设备中，最初几秒钟的电流较高，随后逐渐下降至几乎为零。然而，在处理高容量设备或潮湿污染的绝缘时，吸收电流可能长时间不会下降。
